在现代电子应用系统中，印刷电路板越来越复杂，多层板的设计越来越普遍，大量使用各种表贴元件和BGA(ball grid array) 封装元件，元器件的管脚数和管脚密度不断提高，使用万用表、示波器测试芯片的传统“探针”方法已不能满足要求。在这种背景下，早在20世纪80年代，联合测试行动组(joint test action group，简称JTAG) 起草了边界扫描测试(boundary-scan testing，简写BST)规范，后来在1990年被批准为IEEE标准1149.1-1990规定，简称JTAG标准。
边界扫描测试有两大优点：一个是方便芯片的故障定位，迅速准确地测试两个芯片管脚的连接是否可靠，提高测试检验效率；另一个是，具有JTAG接口的芯片，内置一些预先定义好的功能模式，通过边界扫描通道来使芯片处于某个特定的功能模式，以提高系统控制的灵活性和方便系统设计。现在，所有复杂的IC 芯片几乎都具有JTAG控制接口，JTAG控制逻辑简单方便，易于实现。
边界扫描测试是通过在芯片的每个I/O脚附加一个边界扫描单元(BSC，boundary scan cell)以及一些附加的测试控制逻辑实现的，BSC 主要是由寄存器组成的。每个I/O管脚都有一个BSC，每个BSC 有两个数据通道：一个是测试数据通道,测试数据输入TDI(test data input)、测试数据输出TDO(test data output)；另一个是正常数据通道,正常数据输入NDI(normal data input)、正常数据输出NDO(normal data output)。
图表 1 可编程器件的内部逻辑
在正常工作状态，输入和输出数据可以自由通过每个BSC，正常工作数据从NDI进，从NDO出。在测试状态，可以选择数据流动的通道：对于输入的IC(集成电路，integrated circuit)管脚，可以选择从NDI或从TDI输入数据；对于输出的IC管脚，可以选择从BSC输出数据至NDO，也可以选择从BSC输出数据至TDO。为了测试两个JTAG 设备的连接，首先将JTAG设备1某个输出测试脚的BSC置为高或低电平，输出至NDO，然后，让JTAG设备2的输入测试脚来捕获从管脚输入的NDI值，再通过测试数据通道将捕获到的数据输出至TDO，对比测试结果，即可快速准确的判断这两脚是否连接可靠。
图表 2 边界扫描原理示意图
GOEPEL电子是一家专业研究和开发边界扫描技术产品（IEEE1149）的德国高科技企业，在欧洲市场享誉盛名。
产品多样，提供以超过250种JTAG/边界扫描产品，满足测试需求，为您提供个性化测试解决方案
使用成熟稳定，超过7000次的 JTAG /边界扫描系统的安装，占领市场先导地位，确保使用无忧
泛华测控是GOEPEL电子在中国的代理商和系统联盟商，具有丰富的电路板测试和诊断经验，能够提供完整的电路板测试解决方案。
